GABARITO: C
Microscópio eletrônico de varredura com dispositivo de feixe de íons focalizados (FIB), utilizado para pesquisas e ensaios em escala nanométrica. Com possibilidade de uso em vários laboratórios, o novo equipamento trabalha com dois tipos de feixes: o feixe principal de elétrons (FEG) é capaz de produzir imagens de alta resolução com uma ampliação de até 300 mil vezes, enquanto o feixe de íons de gálio executa a usinagem de amostras – é agora possível realizar um corte ortogonal de superfícies, para uma observação em 3D.
FONTE: https://www.flickr.com/photos/iptbr/6188529473