Questão 2166745

• Banca: IBFC
• Órgão: PM-MG
• Ano: 2015
• Provas: IBFC - 2015 - PM-MG - Professor de Educação Básica - Física
• Disciplina: Física
• Assuntos: Física Atômica e Nuclear; Física Moderna; Ondas e Propriedades Ondulatórias; Oscilação e Ondas

A difração de raios-X é uma técnica de análise cristalográfica de materiais que consiste em projetar um feixe de raios-X de comprimento de onda por volta de um angstrom através de uma amostra e analisar o padrão de difração resultante. Considerando essa breve descrição da técnica, assinale a alternativa incorreta.

• A. A distância entre os planos cristalinos do material definirá a difração que os raios-X sofrem, possibilitando descobrir o padrão e a orientação dos cristais do material.
• B. Materiais amorfos, isto é, sem estrutura cristalina, não são bem analisados por essa técnica.
• C. O posicionamento da amostra em relação à fonte de raios-X altera o resultado da difração entre os planos cristalinos.
• D. Essa técnica também pode ser utilizada em amostras liquidas.

Gabarito: D