As propriedades da Microscopia Eletrônica de Varredura são as seguintes: o princípio de funcionamento de um MEV consiste em utilizar um feixe de elétrons de pequeno diâmetro para explorar a superfície da amostra, ponto a ponto, e transmitir o sinal do detector a uma tela catódica. O sinal de imagem resulta da interação do feixe incidente com a superfície da amostra.
Microscopia Eletrônica de Varredura: Um feixe de elétrons é guiado por um sistema de bobinas de deflação que varre a superfície da amostra (ponta a ponta) e transmite o sinal detector a uma tela catódica. Nela, os elétrons não atravessam o objeto, eles são contornados às estruturas, formando imagens tridimensionais. Essas imagens são coradas pelo programa de computador. Para que a amostra seja introduzida no microscópio de varredura, ela precisa ter dimensões compatíveis com a câmera e estar desidratada, limpa e preservada nas três dimensões, não conter material volátil, ser resistente ao vácuo, ser condutora de carga elétrica e estar fixada ao suporte por meio de adesivo também condutor.
O microscópio eletrônico de varredura se diferencia do microscópio óptico pois utiliza um feixe de elétrons ao invés de fótons. O que permite solucionar o problema de resolução relacionado com a fonte de luz branca. Devido as suas cargas, os elétrons podem ser focalizados por campos eletrostáticos ou eletromagnéticos e assim, formar imagens. A aparência tridimensional das amostras é resultado de sua grande profundidade de campo.
Tal como no microscópio fotónico, também no microscópio electrónico é composto por uma fonte (de elétrons), um sistema ocular, um sistema objetiva e um sistema condensador. Estes sistemas são constituídos por lentes (bobinas) eletromagnéticas que atuam sobre o feixe de elétrons, reproduzindo a maior parte dos sistemas ópticos clássicos: lentes convergentes, lentes divergentes, espelhos, prismas, etc.
A fonte consiste num filamento metálico tornado incandescente pelo efeito de Joule. Este encontra-se inserido num campo elétrico em que os elétrons emitidos pelo filamento são atraídos para um alvo. A atração é gerada pela diferença de potencial (50 a 100 KV) criada entre o próprio filamento, que neste contexto desempenha o papel de cátodo, e o alvo (ânodo). Tal fato tem como consequência que os elétrons se deslocam a uma elevada velocidade. Nada porém aconteceria se o alvo não fosse perfurado centralmente (écran perfurado). Os elétrons que passam através deste orifício, constituem um feixe apertado mas de tendência divergente. Este feixe é condensado pela lente condensadora e incide sobre a preparação a ser examinada (espécime).
Ao atravessar a preparação, os elétrons são desviados uns mais do que outros. O feixe de elétrons com os desvios introduzidos pela preparação, é dispersado pela lente objectiva. Parte desse feixe é, por sua vez, dispersado por outro campo magnético que age como lente de projeção.
Não sendo a nossa visão sensível aos elétrons, a imagem é projetada sobre um écran fosforescente de Sulfureto de Zinco. Neste, os pontos onde embate um elétron, emitem fotões. Consequentemente, podemos ver a imagem, indiretamente, através da “descodificação” realizada pela matéria fluorescente do écran. A mesma imagem pode ser projetada sobre uma película fotográfica ou ainda captada por um sistema de vídeo e posteriormente digitalizada por um computador.
No objeto a observar, as zonas mais densas aos elétrons, que induzem consequentemente maiores desvios ou mesmo absorção, aparecerão menos luminosas no écran. Pelo contrário, as zonas menos densas, darão origem a imagens mais brilhantes no écran; portanto escuras no negativo e claras no positivo fotográfico. Assim, podemos dizer que a imagem que observamos é a sombra eletrônica do objecto.
Contrariamente aos fotões, os elétrons não podem chocar com quaisquer átomos ou moléculas. Por esta razão, o interior do microscópio eletrônico encontra-se em vazio quase absoluto. Fato que inviabiliza a observação de seres vivos.
Fonte: http://materiais.dbio.uevora.pt/jaraujo/biocel/metecnicas.htm