Questão 1021081

• Banca: IBFC
• Órgão: PC-RJ
• Ano: 2013
• Provas: IBFC - 2013 - PC-RJ - Perito Criminal - Farmácia
• Disciplina: Farmácia
• Assuntos: Química Analítica e Espectroscopia

A primeira etapa na análise de uma amostra por espectrometria de massas, após sua introdução no aparelho, é a ionização. Sobre esta etapa é incorreto afirmar que:

• A. A ionização por impacto de elétrons ocorre pelo choque de elétrons energéticos em fase gasosa.
  
• B. A ionização química ocorre em fase gasosa e em eletrodos com alto potencial
  
• C. A dessorção-ionização assistida por matriz (MALDI) ocorre com a ação de um feixe de laser.
  
• D. A espectrometria de massas de íons secundários (SIMS) ocorre pela ação de um feixe energético de elétrons
  
• E. O bombardeamento com átomos rápidos (FAB) se dá com a aplicação de um feixe atômico energético.

Gabarito: D

Comentários

• A espectrometria de massas de íons secundários (SIMS) ocorre pela ação de um feixe energético de elétrons
  

• D) ERRADA, pois: espectrometria de massas de íons secundários. • a ionização por “Liquid SIMS” (LSIMS) é obtida quando íons primários de Césio, acelerados a 30-35 kV colidem com uma amostra posicionada sobre uma superfície e são produzidos íons (íons secundários). • ions secundários são produzidos como resultado do bombardeio de uma superfície (SIMS) ou de um filme de líquido (LSIMS) por um feixe de íons acelerados.

• Essa questão deveria ser anulada, pois o item B também está incorreta.

  Segundo o Skoog - Análise Instrumental:

  Na ionização química os átomos gasosos da amostra são ionizados por colisão com íons produzidos por bombardeamento eletronico de um excesso de um gás reagente.

  Esse gás geralmente é o gás metano, que é bombardeado, gera íons positivos e esses íons positvos colidem com o analito, gerando o analito carregado eletricamente;

  Provavelmente o elaborador da questão se confudiu devido a um erro de tradução do livro do Skoog, que na tabela 20-1 trocou o agente ionizante da ionização química e da ionização por campo. A versão em inglês está corrigida.

• Na espectrometria de massas de íons secundários (SIMS) a amostra analisada é dissolvida ou dispersa em uma matriz e colocada no caminho de um feixe de íons de alta energia (SIMS).