Questão 959257

• Banca: CETRO
• Órgão: ANVISA
• Ano: 2013
• Provas: CETRO - 2013 - ANVISA - Especialista em Regulação - Vigilância Sanitária – Área 1 - Prova Anulada
• Disciplina: Farmácia
• Assuntos: Controle de Qualidade Industrial; Química Analítica e Espectroscopia; Validação de Métodos Analíticos e Garantia da Qualidade

A difratometria de raios X corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicações em diversos campos do conhecimento. É correto afirmar que, na difratometria de raios X,

• A. a intensidade de difração de raios X independe do número de elétrons dos átomos em um dado plano cristalino.
• B. a difração de raios X está relacionada ao espalhamento elástico dos raios X incidentes sobre uma amostra.
• C. as condições para que ocorra a difração de raios X vão depender apenas do comprimento de onda da radiação incidente.
• D. a determinação de tamanho de cristalitos refere-se a uma medida direta, sem a necessidade de comparação com padrão ou calibração instrumental.
• E. os planos de difração e suas respectivas distâncias interplanares, bem como as densidades de átomos, são características comuns a várias substâncias cristalinas.

Gabarito: B

Comentários

• GABARITO: B

  O espalhamento elástico implica que o raio x incide no átomo e não perde energia na difração. Em outras palavras, o raio não transfere energia para o átomo incidido.
  

• Não seria a E)